Patent:
DE102013205330A1, WO2014154371
Patentfamilie: 050023544
10/2014
Bei der Materialprüfung mittels Ultraschall – insbesondere mit modernen Multisensor-Arrays – fallen im Rahmen des Prüfvorgangs riesige Mengen komplexer Daten an, deren Analyse sehr aufwendig sein kann. Diese neue Erfindung löst dieses Problem, indem sie mehrere an einem einzigen Messpunkt erfasste Datensätze automatisch zu einem einzigen, übersichtlichen Bild zusammenführt. Dadurch wird das gesamte Datenvolumen drastisch reduziert, ohne dass wesentliche Prüfdetails verloren gehen. Dies ermöglicht es Technikern, die Ergebnisse wesentlich schneller und einfacher auszuwerten und potenzielle Fehler zu erkennen.